English 
Русский Дорогие преподаватели, студенты и аспиранты.
Спешу вам напомнить, что 23 марта (среда) в 17.00 состоится очередной семинар кафедры на тему:
"Трехмерное картографирование обратного пространства методами электронной и рентгеновской дифракции в применении к исследованию эпитаксиальных гетероструктур"
Докладчик: Сутурин С.М., к.ф.-м.н., с.н.с., лаборатория спектроскопии твердого тела, ФТИ им. А.Ф. Иоффе.
Место проведения: НИИ Физики, корпус «И», 1 этаж (часть НиСФ), Лекционный Холл.
Аннотация:
Ведение поисковых экспериментов по созданию новых гетероструктур методом эпитаксии является интересным, но не всегда до конца предсказуемым процессом. В идеальном случае эпитаксиальная пленка вырастает на подложке в одной единственной заранее известной ориентации. Однако довольно часто при росте возникают неожиданные эпитаксиальные соотношения, вырастают новые малоизученные метастабильные фазы, появляются разно-ориентированные кристаллические решетки. Эффективным подходом, позволяющим разобраться в кристаллической структуре эпитаксиальных слоев, является применение трехмерного картографирования обратного пространства с помощью дифракционных методов. Помимо сведений о постоянных решетки, о пространственных группах и ориентациях, 3D картографирование позволяет также извлечь информацию о дефектной структуре эпитаксиальных слоев из распределения диффузной интенсивности вне узлов обратной решетки.