Русский 
English 
Уважаемые студенты и преподаватели кафедры!
19 декабря (среда) в 17:00 состоятся два заключительных в этом году доклада в рамках регулярного студенческого семинара. Тема:
Остаточные напряжения и эффективность наплавки трением
Докладчик: Довженко Г.Д., аспирант института материаловедения в центре им. Гельмгольца (Гестахт, Германия), лаборант-исследователь ОИКС ПИЯФ НИЦ КИ
Второй доклад в 17:30 на тему:
Поглощение нейтронов в суперзеркальных покрытиях. Приложение к расчётам защиты нейтроноводов
Докладчик: Колеватов Р.С., к.ф.-м.н., постдок Отдела нейтронно-физических методов исследования Института Технологий Энергетики, Челлер, Норвегия (Institute for Energy Technology, Kjeller, Norway - Department for Neutron Materials Characterization).
Место проведения: большая лекционная аудитория профиля НСФ (НИИФ, корпус М, 5 этаж, блок М-10, ауд. 507).
Аннотация:
1) Наплавка трением - это процесс механического нанесения металлических покрытий без расплавления наносимого материала. Процесс применим к широкому спектру металлов: различные стали, никель, бронза, алюминиевые и титановые сплавы. Процесс может быть использован как для послойной печати деталей, так и для их ремонта. На семинаре будет представлено первое исследование остаточных напряжений, создаваемых процессом в титановых и алюминиевых листах. Полученные результаты описывают поведение напряжений в зависимости от толщины листа, параметров наплавки и механической обработки, а также дают представление о возможных шагах для увеличения эффективности наплавки. На примере исследования будут показаны современные возможности и комплементарность нейтронной и синхротронной стресс-дифрактометрии. Данная работа выполнена как часть PhD-программы центра им. Гельмгольца в Гестахте и частично спонсирована в рамках русско-немецкого проекта PIK-GGBase.
2) Нейтроноводы с многослойными («суперзеркальными») отражающими покрытиями в настоящий момент широко используются при транспортировке нейтронного пучка от источника к нейтронным станциям. При достаточном удалении от источника нейтронов основной вклад в мощность дозы ионизирующего излучения даёт захватное гамма-излучение, возникающее при поглощении нейтронов в отражающем покрытии нейтроновода. В Монте-Карловских программах моделирования переноса излучения, традиционно используемых в том числе и для расчётов биологической защиты (MCNP, PHITS, FLUKA, GEANT4) отражение нейтронов от суперзеркальных покрытий реализовано лишь отчасти. Соответственно, до недавнего времени расчёты защиты нейтроноводных систем проводились с помощью эмпирических методов, имеющих большую неопределённость. Это приводило либо к излишней толщине, весу и, как следствие, увеличению стоимости защиты, либо к необходимости устанавливать дополнительные блоки защиты после ввода установки в эксплуатацию и проведения измерений мощности дозы и спектра. В докладе будут представлены результаты расчётов поглощения нейтронов при отражении в многослойных суперзеркальных покрытиях в рамках матричного формализма на примере покрытий, производимых фирмой SwissNeutronics. Будет предложена простая параметризация для вероятности поглощения на один падающий нейтрон, которая может быть использована для практических расчётов. Также будут представлены написанные автором компоненты для программы моделирования нейтронной оптики McStas, позволяющие за короткое время провести расчёт параметров защиты нейтроноводной системы, и приведены примеры таких расчётов.