Русский 
English Уважаемые студенты и преподаватели кафедры.
25 мая (среда) в 17.00 состоится заключительный семинар кафедры в этом году. Тема:
Внутренняя структура сферических частиц диоксида кремния, выращенных многостадийным методом Штобера-Финка-Бона.
Докладчик: Арефьев М.И., аспирант Кафедры ЯФМИ СПбГУ, ст.лаборант Отдела эксплуатации нейтронных станций ПИЯФ НИЦ КИ.
Место проведения: НИИ Физики, корпус «И», 1 этаж помещения профиля НСФ кафедры ЯФМИ, Лекционный Холл
Аннотация:
Проведен анализ данных малоугловго (SAXS) и ультрамалоуглового (uSAXS) рассеяния синтронного излучения от наночастиц SiO2, диаметром от 320 до 1600 нм, полученных рядом последовательных стадий гидролиза ("доращиваний") тетраэтокисилана в спирто-водно-аммиачном растворе (метод Штобера-Финка-Бона).
С помощью аккуратного анализа данных uSAXS удалось установить вид зависимости относительной дисперсии частиц SiO2 от их среднего радиуса. Было выяснено, что относительная дисперсия демонстрирует экспоненциальный спад с ростом количества доращиваний, что, с одной стороны, демонстрирует состоятельность такого подхода в смысле получения почти монодисперсных сферических частиц, а, с другой, проливает свет на дискуссионный вопрос о том, что является движущей силой в процессе роста частиц данным методом.
Кроме того, путём анализа кривых рассеяния в области малых углов (SAXS) было проверено наличие у таких частиц иерархической структуры и установлено, что они состоят из сфер с меньшим радиусом, который, более того, пропорционален их собственному радиусу с коэффициентом пропорциональности 0.241(1). Исходя из этого, была составлена модель зависимости плотности частиц SiO2 от их среднего радиуса, которая замечательно согласуется с тем, что было независимо измерено до этого методом гидростатического взвешивания.