Студенты 5 курса кафедры ЯФМИ - Э.О. Быков, А.У. Гайсин, И.А. Сафиулина под руководством А.А. Мистонова прошли летнюю практику в НИЦ "Курчатовский институт" и в Институте кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН с 26 июня по 9 июля в г. Москва. Были прослушаны курсы лекций по дифракции ренгеновского излучения, малоуглового рассеяния и рефлектометрии. Полученные знания были закреплены в ходе практических занятий. Они посетили музей И.В. Курчатова, побывали в центре электронной и зондовой микроскопии и в мельчайших деталях осмотрели микроскоп Titan Krios, а также послушали наинтереснейшую лекцию В.В. Волкова об особенностях обработки данных в методе малоуглового рассеяния нейтронов и рентгеновского излучения.